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當(dāng)前位置:首頁 > 供求商機(jī) > SGW X-4B-顯微熔點(diǎn)儀 上海儀電
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性能指標(biāo)熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃zui小讀數(shù):0.1℃測(cè)量重復(fù)性:±1℃(在<200℃時(shí))±2℃(在200~300℃時(shí))配雙目體視顯微鏡光學(xué)放大倍數(shù):40X-100X連續(xù)可調(diào)
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